利用切線放縮證明函數(shù)零點(diǎn)差問(wèn)題

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摘 要：文章深入探討利用切線放縮解決函數(shù)零點(diǎn)差問(wèn)題.通過(guò)分析函數(shù)的性質(zhì)，引入切線放縮方法，以具體問(wèn)題為例，詳細(xì)闡述其在證明零點(diǎn)差問(wèn)題中的應(yīng)用.該方法為解決此類問(wèn)題提供了新的思路和途徑，有助于提升學(xué)生的數(shù)學(xué)思維能力和解題技能.

關(guān)鍵詞：切線放縮；零點(diǎn)差問(wèn)題；構(gòu)造函數(shù)；函數(shù)的單調(diào)性

中圖分類號(hào)：G632（剩余607字）