基于小角X射線散射技術(shù)測定淀粉結(jié)構(gòu)研究進(jìn)展

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摘要：小角X射線散射技術(shù)在食品領(lǐng)域是一門重要技術(shù)，它可以測試薄膜、塊體、粉體、液體、流體等樣品的結(jié)構(gòu)特征而不改變其形態(tài)。文章淺析了小角X射線散射原理，闡述了其在淀粉結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用，通過對數(shù)據(jù)擬合和分析以及相關(guān)參數(shù)表征淀粉粒子形狀、平均界面層厚度、分形維數(shù)等方面的研究進(jìn)展進(jìn)行綜述，以期為采用小角X射線散射技術(shù)測定其他食品結(jié)構(gòu)提供理論依據(jù)及參考。（剩余12371字）