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基于Si IGBT與SiC FET并聯(lián)的新型混合器件特性解析及對比研究

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摘 要:對由SiC FET與Si IGBT并聯(lián)組成的新型混合器件(HY_F)開展研究。首先,分析HY_F的基本結(jié)構(gòu)與工作原理,并搭建HY_F的導(dǎo)通損耗模型、開通損耗模型以及關(guān)斷損耗模型。其次,基于混合器件的仿真模型,分析HY_F與傳統(tǒng)Si IGBT/SiC MOSFET混合器件(HY_M)在不同額定電流等級下?lián)p耗與成本的優(yōu)劣勢。(剩余16443字)

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