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摘要：隨著現(xiàn)代化電子科學(xué)技術(shù)的迅猛發(fā)展，電子產(chǎn)品細(xì)致化程度不斷升高，結(jié)構(gòu)逐漸細(xì)化、工序逐漸增加、制造工藝逐漸復(fù)雜，由此在生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)埋下了一系列隱患。一個(gè)良好的電子產(chǎn)品，不僅需要在性能層面具備較高的指標(biāo)，同時(shí)還需要擁有較好的穩(wěn)定性能，當(dāng)前國(guó)內(nèi)外普遍應(yīng)用高溫老化工藝，提高電子元器件的可靠性以及穩(wěn)定性。（剩余5713字）
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電子元器件的老化測(cè)試及最新設(shè)備研究
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