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SOC可測(cè)性設(shè)計(jì)的優(yōu)化理論研究

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摘要:隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展,系統(tǒng)級(jí)芯片(System on a Chip,SOC)已成為各種電子系統(tǒng)中的核心組件。作為一種高度集成的電路,SOC實(shí)現(xiàn)了許多原本需要大量獨(dú)立組件才能實(shí)現(xiàn)的功能。在傳統(tǒng)的電子系統(tǒng)中,電路的設(shè)計(jì)和制造通常是由不同的團(tuán)隊(duì)獨(dú)立完成的,這種分離的操作方式導(dǎo)致了很多問(wèn)題,如測(cè)試成本高、測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)等。(剩余5070字)

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