某機(jī)載遠(yuǎn)程接口單元上電FLASH 校驗失敗故障分析

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摘要：作為飛機(jī)機(jī)電管理系統(tǒng)（UMS） 的核心設(shè)備之一，某機(jī)載遠(yuǎn)程接口單元（RIU） 在使用過程中頻繁出現(xiàn)上電FLASH校驗失敗故障，影響了飛機(jī)任務(wù)出動。文章運用故障樹分析法，排查了RIU上電FLASH校驗失敗的根本原因：看門狗測試觸發(fā)NMI后未對中斷標(biāo)志位進(jìn)行清除，NMI重復(fù)執(zhí)行期間NvRAM的“寫”操作被CPU的復(fù)位終止，造成FLASH校驗值被改寫。（剩余2954字）