基于小波變換的TFT-LCD屏Mura缺陷檢測

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摘  要：為實(shí)現(xiàn)對TFT-LCD Mura缺陷的自動檢測，針對Mura缺陷對比度低及背景亮度不均勻的特點(diǎn)，提出一種基于小波變換的Mura缺陷自動識別算法。首先，通過對CCD相機(jī)采集到的Mura缺陷圖像進(jìn)行圖像預(yù)處理。接著，基于小波變換選擇合適的小波函數(shù)，進(jìn)行小波變換。然后，對小波變換后的細(xì)節(jié)圖像進(jìn)行處理分析，得到Mura缺陷的輪廓邊緣。（剩余4712字）