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摘 要:利用Materials studio軟件中的CASTEP模塊下的HSE06密度泛函,計(jì)算了Al、Cu、C、Si、SiC等一些晶體結(jié)構(gòu)的能帶及光學(xué)性質(zhì),使用該軟件可以建立起清晰的物理圖像,將一些比較抽象的概念具體化,便于分析材料的各個(gè)性質(zhì)。根據(jù)所得出的物理圖像,總結(jié)他們的共同點(diǎn)發(fā)現(xiàn):對(duì)于金屬元素來(lái)說(shuō)導(dǎo)帶會(huì)穿過(guò)費(fèi)米面,而絕緣體的帶隙較寬;分析Al、C等元素的復(fù)介電函數(shù),可以較準(zhǔn)確的得出其靜態(tài)介電常數(shù)。(剩余4037字)
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CASTEP在電子結(jié)構(gòu)教學(xué)中的應(yīng)用
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