磁柱表面缺陷邊緣檢測(cè)算法優(yōu)化研究

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摘  要：磁柱應(yīng)用十分廣泛，且表面缺陷對(duì)其性能影響極大。然而，國(guó)內(nèi)外對(duì)磁柱表面結(jié)疤、黑片缺陷的邊緣檢測(cè)算法研究很少。該文根據(jù)磁柱表面結(jié)疤、黑片缺陷的特征，基于優(yōu)化的Canny提出一種適用于磁柱表面結(jié)疤、黑片缺陷的檢測(cè)算法。在非極大值抑制過程中，將4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)梯度方向優(yōu)化為4個(gè)方向區(qū)域，圖像中任意像素點(diǎn)梯度方向不再受限于4個(gè)標(biāo)準(zhǔn)方向；在雙閾值處理過程中，將圖像灰度級(jí)為t的領(lǐng)域灰度設(shè)定為[-m，m]，利用優(yōu)化后的均值■（t）計(jì)算出相應(yīng)的類間方差？滓*2（t）、最佳閾值t*，實(shí)現(xiàn)通過高低閾值自適應(yīng)選取來(lái)保留磁柱表面缺陷圖像真正的弱邊緣。（剩余8166字）