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基于近場電磁掃描系統(tǒng)的電磁超透鏡實驗表征

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摘 要 透鏡是光學實驗中常見的元件，也是成像系統(tǒng)中必不可少的一環(huán)。然而隨著集成成像等新型光學成像技術的發(fā)展，傳統(tǒng)光學透鏡因其體積大等劣勢難以實現(xiàn)微型化和集成化。近年來，超透鏡作為平面光學元件，通過設計亞波長尺寸的單元結構可以實現(xiàn)對光的偏振、振幅、相位等方面的調(diào)控，這些獨特的光學特性也使超透鏡成為了近些年來微納光學領域的研究熱門。（剩余125字）

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