面向可解釋性的軟件缺陷預(yù)測主動(dòng)學(xué)習(xí)方法

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摘  要： 針對軟件缺陷預(yù)測中數(shù)據(jù)標(biāo)注代價(jià)較高及深度學(xué)習(xí)模型缺乏可解釋性的問題，提出一種面向可解釋性的軟件缺陷預(yù)測主動(dòng)學(xué)習(xí)方法。首先，基于主動(dòng)學(xué)習(xí)技術(shù)，通過樣本選擇策略從目標(biāo)項(xiàng)目中篩選出不確定性高的樣本進(jìn)行專家標(biāo)注，并將這些標(biāo)注樣本放入源項(xiàng)目中以訓(xùn)練預(yù)測器。其次，利用領(lǐng)域知識對選定樣本進(jìn)行擾動(dòng)，構(gòu)建局部數(shù)據(jù)集，并通過線性模型在該數(shù)據(jù)集上模擬數(shù)據(jù)選擇策略的行為，以實(shí)現(xiàn)模型的可解釋性。（剩余16954字）