基于加速退化試驗(yàn)的脈寬調(diào)制器貯存壽命預(yù)測研究

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摘  要： 脈寬調(diào)制器作為開關(guān)電源的核心器件，已廣泛應(yīng)用于航天器中，但其貯存壽命會(huì)影響電源系統(tǒng)的可靠性，進(jìn)而影響航天器任務(wù)執(zhí)行的成敗。在壽命評估中，加速退化試驗(yàn)是常用的試驗(yàn)方法，其中激活能值是預(yù)測器件貯存壽命的關(guān)鍵，但目前相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)只有器件激活能值的參考范圍，缺乏試驗(yàn)相關(guān)條件設(shè)置的詳細(xì)描述，這會(huì)影響壽命評估的精度。（剩余9572字）