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【摘 要】汽車遙控鑰匙在使用時(shí),靜電放電(Electrostatic Discharge,ESD)產(chǎn)生的脈沖電流容易對遙控鑰匙內(nèi)部芯片造成破壞,降低鑰匙使用壽命,但目前ESD對鑰匙芯片的失效機(jī)理以及后續(xù)的優(yōu)化方案研究較少,從而導(dǎo)致遙控鑰匙使用過程中極大影響了客戶的使用體驗(yàn)。本文以汽車遙控鑰匙為研究對象,通過試驗(yàn)分析鑰匙靜電失效形式,針對遙控鑰匙靜電失效問題研究了解決方案。(剩余3808字)
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汽車遙控鑰匙ESD耐壓能力優(yōu)化分析
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