基于數(shù)字孿生的印刷電路板缺陷檢測(cè)算法優(yōu)化

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摘 要：針對(duì)傳統(tǒng)生產(chǎn)線上缺陷檢測(cè)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)控性能差、檢測(cè)精度不足等問題，提出了基于數(shù)字孿生的缺陷檢測(cè)算法。根據(jù)檢測(cè)設(shè)備的運(yùn)行特點(diǎn)和實(shí)時(shí)監(jiān)控的要求，提出了數(shù)字孿生的基礎(chǔ)框架。以微型電子產(chǎn)品裝配產(chǎn)線中的視覺檢測(cè)機(jī)器人為例，基于數(shù)字孿生框架，構(gòu)建了機(jī)器人的數(shù)字孿生系統(tǒng)。利用深度學(xué)習(xí)的知識(shí)，對(duì)缺陷檢測(cè)算法進(jìn)行優(yōu)化。（剩余429字）