數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)綜述

摘要：文章深入分析數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)應(yīng)用現(xiàn)狀，首先針對數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的主要組成部分及其功能進(jìn)行描述；隨后闡述數(shù)字集成電路檢測的理論方法，其中圍繞集成電路直流參數(shù)測試以及功能測試進(jìn)行重點(diǎn)描述。直流參數(shù)測試進(jìn)一步劃分為接觸性測試、漏電電流以及集成電路輸出功耗測試等部分；最后，探討了數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用狀況和當(dāng)前的使用情況，并對其未來發(fā)展趨勢進(jìn)行了預(yù)測。（剩余5288字）