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摘 要：針對數(shù)字波控電路在星載控制電路應用中存在的單粒子翻轉(zhuǎn)效應問題，提出了一種基于DICE單元的雙穩(wěn)態(tài)D觸發(fā)器設計改進，設計了一種能夠抵御眾多類型單粒子翻轉(zhuǎn)效應的D觸發(fā)器，并基于該D觸發(fā)器，結(jié)合電路級單粒子加固技術設計了一款串并轉(zhuǎn)換芯片。測試表明，采用改進D觸發(fā)器結(jié)構(gòu)的波控芯片能夠抵御至少80 MeV的單粒子效應事件。（剩余4407字）
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一種抗單粒子效應的加固技術研究
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