注冊帳號丨忘記密碼?
1.點擊網(wǎng)站首頁右上角的“充值”按鈕可以為您的帳號充值
2.可選擇不同檔位的充值金額,充值后按篇按本計費
3.充值成功后即可購買網(wǎng)站上的任意文章或雜志的電子版
4.購買后文章、雜志可在個人中心的訂閱/零買找到
5.登陸后可閱讀免費專區(qū)的精彩內(nèi)容
摘要:微電子器件作為現(xiàn)代電子技術(shù)的基石,其可靠性對整個電子行業(yè)至關(guān)重要。隨著電子設(shè)備向更小型化、高性能化發(fā)展,微電子器件的可靠性問題日益凸顯,微電子器件封裝技術(shù)對于保證器件性能和延長使用壽命具有至關(guān)重要的作用。本文概述當(dāng)前市場上主流封裝技術(shù),簡要介紹一些加速失效的影響因素,并提出一系列封裝可靠性評估方法。(剩余5495字)
登錄龍源期刊網(wǎng)
購買文章
主流的微電子器件封裝技術(shù)與常見的可靠性評估方法
文章價格:4.00元
當(dāng)前余額:100.00
閱讀
您目前是文章會員,閱讀數(shù)共:0篇
剩余閱讀數(shù):0篇
閱讀有效期:0001-1-1 0:00:00
違法和不良信息舉報電話:400-106-1235
舉報郵箱:longyuandom@163.com