考慮退化相關(guān)性的電解電容實(shí)時(shí)剩余壽命預(yù)測(cè)

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摘要：目前對(duì)于電解電容的退化特性研究多是基于單個(gè)退化特征，難以精確預(yù)測(cè)電容的剩余壽命。針對(duì)這一現(xiàn)狀，本文提出考慮退化特征相關(guān)性的二元線性Wiener過(guò)程退化模型進(jìn)行電容剩余壽命實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)。首先利用Box-Cox變換對(duì)電容退化數(shù)據(jù)進(jìn)行線性化處理，然后將極大似然估計(jì)結(jié)合自助抽樣法得到的模型參數(shù)經(jīng)Bayesian理論進(jìn)行實(shí)時(shí)更新，并利用蒙特卡洛算法求解電容的剩余壽命分布，最后通過(guò)NASA試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行了驗(yàn)證，并與基于Copula 函數(shù)處理相關(guān)性的算法進(jìn)行了對(duì)比。（剩余11283字）