基于歸一化模板匹配算法的動(dòng)作電位檢測(cè)IC

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摘  要： 針對(duì)多通道神經(jīng)元?jiǎng)幼麟娢唬ˋP）信號(hào)采集硬件系統(tǒng)中，前端采集IC因電極阻抗、應(yīng)用環(huán)境、系統(tǒng)功耗以及系統(tǒng)面積等因素而導(dǎo)致原始信號(hào)信噪比較低的問(wèn)題，設(shè)計(jì)一種基于歸一化模板匹配算法的AP信號(hào)檢測(cè)IC。該檢測(cè)IC基于模板匹配算法，并引入信號(hào)歸一化以去除冗余信息。為確保芯片的實(shí)時(shí)性并降低功耗，芯片整體采用三級(jí)流水線結(jié)構(gòu)，各個(gè)模塊間插入門控時(shí)鐘，同時(shí)可通過(guò)SPI總線配置更新其工作狀態(tài)。（剩余10294字）