基于多參數(shù)性能退化競爭失效的光電探測器儲存壽命評估

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摘要：針對光電探測器的儲存壽命評估問題，綜合考慮樣品關(guān)鍵性能參數(shù)有無變壞或者向好的趨勢情況，提出了一種基于蒙特卡洛法的多參數(shù)競爭失效儲存壽命評估新方法。首先，通過性能退化建模選擇單一參數(shù)的最優(yōu)退化模型，從而對于退化趨勢遞增的樣品根據(jù)失效閾值計(jì)算其偽壽命，對于退化趨勢遞減的樣品將其偽壽命看作右刪失數(shù)據(jù)；然后，根據(jù)偽壽命數(shù)據(jù)結(jié)合最大期望（Expectation Maximization， EM）算法選擇單一性能參數(shù)的最優(yōu)分布；最后，通過蒙特卡洛采樣法進(jìn)行多參數(shù)的競爭失效評估。（剩余1266字）