基于開爾文探針力顯微鏡探究半導(dǎo)體光催化劑的表面電勢(shì)分布

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摘要：開爾文探針力顯微鏡能夠通過探針與樣品之間的接觸電勢(shì)差來獲取樣品的功函數(shù)和表面電勢(shì)分布圖. 為充分發(fā)揮近代物理實(shí)驗(yàn)課程培養(yǎng)學(xué)生自主創(chuàng)新實(shí)踐能力的作用，增設(shè)了開爾文探針力顯微鏡技術(shù)實(shí)驗(yàn). 實(shí)驗(yàn)選取典型的半導(dǎo)體光催化劑TiO2和BiVO4為測(cè)試對(duì)象，通過在暗態(tài)和可見光照條件下測(cè)試樣品表面電勢(shì)的變化，（剩余6451字）