面向光芯片測(cè)試的ATE數(shù)據(jù)存儲(chǔ)傳輸系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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文章編號(hào)：1005-5630（2024）05-0031-09 DOI：10.3969/j.issn.1005-5630.202310260120

摘要：光芯片是在光纖系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)光電信號(hào)轉(zhuǎn)換的重要器件，因此在生產(chǎn)制造完成后需要經(jīng)過(guò)大量測(cè)試。集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（auto test equipment，ATE）是現(xiàn)今芯片測(cè)試中所使用的主要設(shè)備，在對(duì)光芯片測(cè)試時(shí)有自動(dòng)化程度高、精度高、測(cè)試范圍廣、速度快等優(yōu)勢(shì)。（剩余10514字）