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文章編號(hào)：1005-5630（2024）05-0024-07 DOI：10.3969/j.issn.1005-5630.202305100093
摘要：光學(xué)元件表面缺陷會(huì)嚴(yán)重影響到光學(xué)系統(tǒng)的性能指標(biāo)?，F(xiàn)有的光學(xué)元件表面缺陷檢測(cè)技術(shù)存在檢測(cè)速度慢，精度低等問(wèn)題?；诠鈱W(xué)元件微缺陷偏振檢測(cè)技術(shù)，研究了缺陷偏振成像的數(shù)字圖像處理方法。（剩余7570字）
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光學(xué)元件微缺陷偏振檢測(cè)的圖像處理方法研究
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