電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證不滿意原因分析

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摘  要：能力驗(yàn)證試驗(yàn)是用來確認(rèn)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室相應(yīng)的試驗(yàn)?zāi)芰Φ囊豁?xiàng)重要方式，是CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制的一種手段。低溫試驗(yàn)作為環(huán)境檢測中最常用的一種試驗(yàn)方法，是實(shí)驗(yàn)室具備環(huán)境檢測能力的重要體現(xiàn)。該文以所在實(shí)驗(yàn)室參加的低溫試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證計劃為例，對低溫試驗(yàn)的基本標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行簡單闡述，并對實(shí)驗(yàn)室的能力驗(yàn)證評價結(jié)果進(jìn)行詳細(xì)分析，給出把控低溫試驗(yàn)全過程的技術(shù)建議，提高實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)測試能力，以期為業(yè)界提供一定參考。（剩余6878字）