基于深度學(xué)習(xí)的玉米植株表型檢測(cè)方法研究

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摘要：為了實(shí)現(xiàn)單株玉米植株表型的快速無(wú)損檢測(cè)，提出了一種基于深度學(xué)習(xí)的玉米植株表型檢測(cè)方法。采集玉米植株表型數(shù)據(jù)集（包含多視角玉米植株圖像和人工測(cè)量的鮮質(zhì)量、干質(zhì)量、葉面積表型數(shù)據(jù)），采用大步距卷積、resize降尺寸和大步距池化層降采樣3種方法進(jìn)行圖像降采樣，減少了模型計(jì)算消耗的資源，降低了圖像的尺寸，并對(duì)比普通卷積、深度卷積、深度可分離卷積3種卷積的效果。（剩余10117字）