射頻電纜衰減常數(shù)實測結(jié)果的分析方法

0 引言

衰減常數(shù)是射頻電纜的重要參數(shù)之一。為了實現(xiàn)電纜在毫米波段的信號傳輸，作為考核電纜的主要性能指標(biāo)，衰減常數(shù)顯得格外重要。在電纜研制和生產(chǎn)過程中，由于諸如材料和工藝等原因往往會引起衰減的實際測試值偏大，甚至超標(biāo)，這就需要對其原因進(jìn)行分析，然后才能采取有針對性的有效措施加以改進(jìn)。

同軸射頻電纜衰減常數(shù) α 源于導(dǎo)體的損耗和絕緣的損耗兩個方面，可表示為[1]：

其中導(dǎo)體損耗引起的電纜衰減 （單位為dB/ 為：

絕緣介質(zhì)損耗引起的電纜衰減 （單位為dB/ 為：

式中： D，d 分別為電纜外導(dǎo)體和內(nèi)導(dǎo)體的直徑 .f 為工作頻率 為絕緣的等效介電常數(shù)； 和 分別為內(nèi)、外導(dǎo)體的材料和結(jié)構(gòu)形式所確定的電阻系數(shù)；tan8為絕緣的介質(zhì)損耗角正切，與絕緣材料及結(jié)構(gòu)的選擇有關(guān)。（剩余3395字）