基于加速退化試驗的漏電信號調(diào)理電路性能退化及可靠性研究

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摘 要：

在電子電路服役過程中，元器件退化會引起電路輸出特性變化，降低電子電路的可靠性。漏電信號調(diào)理電路作為一種電子電路，其可靠性直接決定了漏電斷路器的可靠性。以漏電信號調(diào)理電路為研究對象，首先基于靈敏度分析方法確定影響電路性能退化的關鍵元器件，并對漏電信號調(diào)理電路進行了以溫度為加速應力、動作電流值為退化特征量的恒定應力加速退化試驗；其次根據(jù)不同溫度應力下的試驗數(shù)據(jù)建立基于Wiener過程的漏電信號調(diào)理電路性能退化模型，并利用極大似然估計法求取退化模型的未知參數(shù)，進而得出壽命預測的概率密度函數(shù)和可靠度函數(shù)；最后利用阿倫尼斯（Arrhenius）方程外推出正常應力下漏電信號調(diào)理電路的預測壽命。（剩余11789字）