高精度混合集成電路直方圖測試討論

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關鍵詞：ADC；直方圖；靜態(tài)參數(shù)

本文主要通過測試機臺模擬步進DAC，并且步進DAC 比待測器件高出4 bit，這樣ATE 測試機臺能夠?qū)⒁粋€待測ADC 的一個轉(zhuǎn)換碼平均分割16 步進，并且轉(zhuǎn)換16 次。從而待測器件理想情況下每位的轉(zhuǎn)換碼都會重復出現(xiàn)16 次。直方圖測試就是通過統(tǒng)計每個碼點出現(xiàn)的次數(shù)，與理想情況下碼點出現(xiàn)的次數(shù)來計算靜態(tài)參數(shù)值。（剩余742字）