快速掃描的開(kāi)關(guān)量信號(hào)邊界測(cè)試方案設(shè)計(jì)

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【關(guān)鍵詞】開(kāi)關(guān)量；邊界測(cè)試；邊界掃描技術(shù)；數(shù)據(jù)采集

引言

測(cè)試是所有電子設(shè)備和集成電路板的制造中不可或缺的一部分[1]。隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展和印刷電路工藝的進(jìn)步，傳統(tǒng)的測(cè)試方式已經(jīng)無(wú)法全面適應(yīng)如今的發(fā)展[2]，市場(chǎng)急需一種可以快速測(cè)試的技術(shù)。本方案就是針對(duì)這一問(wèn)題所提出的一種快速掃描開(kāi)關(guān)量邊界的測(cè)試技術(shù)，它主要通過(guò)在電路邊界設(shè)置特殊的寄存器或者設(shè)備（信號(hào)發(fā)射器、數(shù)據(jù)采集器等），實(shí)現(xiàn)對(duì)電路內(nèi)部信號(hào)的監(jiān)控和采集[3]。（剩余2608字）