PERC單晶硅太陽電池的EL圖像鋁主柵發(fā)黑原因的研究

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中圖分類號(hào)：TM615 文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A

0引言

目前，電致發(fā)光（EL）檢測(cè)和光致發(fā)光（PL）檢測(cè)是兩種檢測(cè)PERC單晶硅太陽電池缺陷的常用手段。PL檢測(cè)是使用光源（比如：LED燈、激光）照射硅片表面激發(fā)非平衡載流子，部分電子與空穴復(fù)合后，以光子的形式釋放多余能量，形成PL現(xiàn)象，然后對(duì)生成的PL圖形進(jìn)行分析；PL圖形分析使用高分辨率的電荷耦合器件（CCD）攝像頭接收發(fā)光光譜并形成2D圖像，是1種非接觸式、快速的測(cè)試手段。（剩余7447字）