光學(xué)曲面的偏折測(cè)量技術(shù)：原理、挑戰(zhàn)與展望（特邀）

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摘要：偏折術(shù)由于其測(cè)量系統(tǒng)簡(jiǎn)單、動(dòng)態(tài)范圍大、抗干擾能力強(qiáng)，在復(fù)雜光學(xué)曲面的面形與缺陷檢測(cè)方面具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。但是偏折測(cè)量的操作復(fù)雜、影響因素多、數(shù)據(jù)傳遞鏈條長(zhǎng)，嚴(yán)重限制了其在工程實(shí)踐中的應(yīng)用。為此，本文介紹了偏折術(shù)的工作原理和發(fā)展脈絡(luò)，列舉了主要測(cè)量步驟，包括結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、系統(tǒng)標(biāo)定、編碼與物像匹配以及積分重構(gòu)。（剩余146字）