2</sub> 晶體(以下簡(jiǎn)稱CH晶體)與材料力學(xué)性能關(guān)系研究較為滯后的現(xiàn)狀,結(jié)合FTIR、XRD、TG技術(shù)定量表征界面CH晶體取向指數(shù)、平均晶體尺寸、含量,闡明CH晶體結(jié)構(gòu)的演變規(guī)律,從而構(gòu)建了界面CH晶體取向指數(shù)與材料力學(xué)性能之間的關(guān)系。研究結(jié)果表明:界面存在CH晶體富集、取向性生長(zhǎng)、晶體尺寸大的特點(diǎn)。隨著齡期增長(zhǎng),CH晶體含量不斷增大,CH晶體取向指數(shù)逐漸減小;粉煤灰和硅粉的摻入降低了CH晶體取向指數(shù)、尺寸和含量。最后擬合得到了不同摻和料界面CH取向指數(shù)與材料抗折、抗壓強(qiáng)度之間的關(guān)系。-龍?jiān)雌诳W(wǎng)" />