西瓜枯萎病抗性分子標(biāo)記篩選與應(yīng)用

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摘要：西瓜是一種重要的園藝作物，經(jīng)濟(jì)效益顯著，但枯萎病的發(fā)生嚴(yán)重限制了西瓜的生產(chǎn)。為了解決這一難題，利用簡(jiǎn)單、方便、實(shí)用性強(qiáng)的分子標(biāo)記技術(shù)輔助選育抗性強(qiáng)的西瓜品種對(duì)于西瓜產(chǎn)業(yè)的優(yōu)質(zhì)發(fā)展具有重要意義。以父本sugarlee、母本伊選、F1代、F2代及F3代遺傳群體為材料，通過苗期接種鑒定，對(duì)父本的抗性遺傳規(guī)律進(jìn)行研究，發(fā)現(xiàn)父本sugarlee對(duì)枯萎病生理小種1的抗性遺傳為單基因顯性性狀遺傳;然后利用CAPS、InDel、SCAR、dCAPS和RAPD等多種分子標(biāo)記技術(shù)，篩選了22個(gè)與西瓜枯萎病抗性基因相關(guān)的分子標(biāo)記，獲得了與西瓜枯萎病緊密連鎖的抗性標(biāo)記3個(gè)，分別為indel04、indel05、indel06，位于抗病基因的一側(cè)，連鎖距離分別為7.5、10.7、13.7 cM，將這3個(gè)分子標(biāo)記對(duì)20份西瓜材料進(jìn)行分子檢測(cè)，結(jié)果與實(shí)驗(yàn)室接種鑒定的結(jié)果基本一致。（剩余5497字）