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摘 要：
氣隙缺陷往往導(dǎo)致局部放電（PD）現(xiàn)象，局放的發(fā)展過程與放電條件密切相關(guān)，通過放電的宏觀表征來分析判斷放電條件，是實(shí)現(xiàn)絕緣條件評估的重要途徑。以溫度對氣隙缺陷下局放過程的影響為例，通過建立溫度條件對放電過程的參數(shù)控制模型，研究了不同溫度對其微觀發(fā)展過程的影響，得到了不同溫度條件下的宏觀表征。（剩余12455字）
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封閉條件下溫度對氣隙放電影響的模擬研究
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