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電子元器件低頻電噪聲測試技術(shù)及應(yīng)用研究

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【關(guān)鍵詞】電子元器件；低頻噪聲；測試

引言

電子元器件在實際中的應(yīng)用會產(chǎn)生或多或少的噪聲，以噪聲頻域特性作為依據(jù)，能夠?qū)㈦娮悠骷肼晞澐殖砂自肼暸c有色噪聲；以產(chǎn)生機制作為依據(jù)對電子器件噪聲進(jìn)行劃分，能夠?qū)⑵浞殖善胶庠肼暭胺瞧胶庠肼昜1]。噪聲大小也體現(xiàn)著產(chǎn)品的性能和運行可靠性，所以當(dāng)前電子元器件噪聲測試方面問題受到了相關(guān)領(lǐng)域研究人員的廣泛關(guān)注。（剩余4380字）

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