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光源尺寸對(duì)邁克耳孫干涉條紋可見度的影響

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關(guān)鍵詞 光源尺寸;邁克耳孫干涉儀;非定域干涉;條紋可見度

邁克耳孫干涉儀實(shí)驗(yàn)是大學(xué)物理的一個(gè)基礎(chǔ)光學(xué)內(nèi)容[1]?；诖?，學(xué)生可實(shí)現(xiàn)各種干涉圖案并進(jìn)行一些精密的光學(xué)測(cè)量。通常，干涉儀所用光源為：點(diǎn)光源（激光），擴(kuò)展光源（鈉燈/汞燈/白熾燈），分別觀測(cè)到非定域和定域干涉圖案[2，3]。隨著光源發(fā)光尺寸的增大，觀察屏上條紋的可見度下降，干涉由非定域向定域轉(zhuǎn)變[4]。（剩余665字）

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