正畸支抗釘中微量有害元素的SEM-EDS識(shí)別與ICP-MS定量研究

打開(kāi)文本圖片集

摘要：試驗(yàn)采用掃描電子顯微鏡-能量色散X射線(xiàn)光譜儀（Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy，SEM-EDS）與電感耦合等離子體質(zhì)譜法（Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry，ICP-MS），對(duì)口腔正畸治療中常用的支抗釘進(jìn)行有害元素的定性識(shí)別與定量分析。（剩余4824字）