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基于X 射線熒光光譜分析水稻籽粒離子組

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摘要： 【目的】水稻籽粒離子組通常采用電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS） 和電感耦合等離子體發(fā)射光譜（ICPOES）等技術(shù)進行分析，需要破壞性取樣且樣品前處理過程復(fù)雜。X 射線熒光光譜法（XRF） 一般無需進行樣品處理，可以快速無損地檢測樣品中的元素含量。本研究建立和優(yōu)化了利用XRF 進行水稻籽粒離子組分析的方法。（剩余14789字）

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