提高磁環(huán)境模擬器校準(zhǔn)精度 為電子設(shè)備性能測試提供支撐

隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的發(fā)展，電磁環(huán)境模擬器在軍事、通信、航空航天等領(lǐng)域扮演著越來越重要的角色，用于模擬復(fù)雜的電磁環(huán)境，以測試和驗(yàn)證電子設(shè)備的抗干擾能力。然而，模擬器的準(zhǔn)確性直接影響到測試結(jié)果的可靠性，因此對其校準(zhǔn)過程的不確定度進(jìn)行評定和改進(jìn)顯得尤為重要。本研究探討電磁環(huán)境模擬器校準(zhǔn)過程中的關(guān)鍵參數(shù)識別、不確定度來源分析以及量化方法，并提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。（剩余3267字）