基于灰度自適應(yīng)增強的 DKDP 晶體損傷檢測

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摘要：在磷酸二氫鉀（KDP）及磷酸二氘鉀（DKDP）晶體損傷研究中需要對圖像中損傷點進行統(tǒng)計，為了解決損傷圖像中弱小損傷點的低對比度導(dǎo)致統(tǒng)計不準(zhǔn)確的問題，提出一種基于局部直方圖灰度自適應(yīng)增強的損傷點檢測方法。首先利用圖像差分去除高頻背景，然后根據(jù)圖像中每個像素鄰域的灰度與方差和整幅圖像的灰度與方差之間的差異性，篩選出待增強像素，并通過鄰域最大灰度值與全局最大灰度值得出灰度調(diào)節(jié)系數(shù)，對圖像進行自適應(yīng)增強，最后對增強后的圖像進行閾值分割及目標(biāo)分離。（剩余10213字）