基于壓力滲透載荷的Y形往復密封結(jié)構(gòu)的可靠性分析及結(jié)構(gòu)優(yōu)化

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摘要：以Y形往復密封結(jié)構(gòu)為對象，開展往復密封可靠性分析與結(jié)構(gòu)優(yōu)化。首先，構(gòu)建了Y形往復密封結(jié)構(gòu)的有限元模型，并基于壓力滲透載荷的加載方式模擬了流體介質(zhì)壓力對Y形密封圈的作用。然后，分析了介質(zhì)壓力和接觸面摩擦系數(shù)對Y形密封可靠性的影響規(guī)律，得到了接觸壓力和摩擦力在主密封面上的分布規(guī)律和變化趨勢。最后，針對反行程時Y形密封圈的接觸壓力和摩擦力過大的問題，運用最佳填充空間設計方法，以反向行程時Y形密封圈最大接觸壓力的最小值為目標函數(shù)構(gòu)建響應面模型，并使用多目標遺傳算法對Y形密封截面的唇邊寬度尺寸進行了優(yōu)化，得到了Y形密封圈最大接觸壓力和徑向力的邊界條件。（剩余8074字）