異構(gòu)加速絕對(duì)平面檢測(cè)

摘要：光學(xué)干涉檢測(cè)領(lǐng)域的不斷發(fā)展要求檢測(cè)儀器具備更高的橫向分辨率。高分辨率意味著處理時(shí)間變長(zhǎng)，測(cè)試效率變低。為提高測(cè)試效率，提出了一種利用 CPU/GPU 異構(gòu)計(jì)算并行加速的Zernike 多項(xiàng)式絕對(duì)平面檢測(cè)方法。該方法使用CPU 進(jìn)行流程控制，利用GPU 多核優(yōu)勢(shì)將檢測(cè)平面中的元素離散并行求解，并在Zernike 系數(shù)求解中使用混合精度，在峰谷值和均方根值求解中使用線程束原語(yǔ)指令進(jìn)一步優(yōu)化性能。（剩余2054字）