腦深部電刺激系統(tǒng)磁共振成像研究

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【摘要】 目的 評(píng)估腦深部電刺激（DBS）系統(tǒng)在帕金森病（PD）丘腦底核（STN）刺激術(shù)后磁共振成像（MRI）的安全性，分析掃描前后的偽影大小及其對(duì)電極阻抗的影響。方法 納入2023年5月—2024年6月在北京協(xié)和醫(yī)院行DBS植入術(shù)后的23例PD患者，對(duì)所有入組患者行頭部1.5 T MRI，記錄掃描前后電極各觸點(diǎn)阻抗值、溫度和特殊吸收率（SAR）值，比較掃描前后各參數(shù)差異；分析患者掃描所得MRI圖像的偽影，比較兩種不同序列偽影體積的差別；探究電極阻抗變化與偽影體積的相關(guān)性。（剩余10551字）